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分享半導(dǎo)體行業(yè)媒體最新資訊,開展行業(yè)的技術(shù)交流、思想碰撞、信息互換、資料查詢等,以市場趨勢為導(dǎo)向、以客戶滿意為結(jié)果,銳意進取持續(xù)發(fā)展。
國產(chǎn)電動汽車拿下全球66%市場,但90%芯片仍依賴進口!
  • 更新日期: 2024-10-26
  • 瀏覽次數(shù): 1534
據(jù)《經(jīng)理人》援引研究機構(gòu)Rho Motion的最新調(diào)查數(shù)據(jù)報道稱,2024年9月,全球電動汽車市場總計售出170萬輛電動車,創(chuàng)下新的銷售紀錄。其中,以中國電動汽車市場表現(xiàn)最突出,單月銷售110萬輛刷新紀錄,幾乎占全球市場66%的份額。 2024年初至9月底,全球共賣出1,150萬輛電動車,其中國市場銷量高達720……
英偉達2024年將出貨10億個RISC-V 內(nèi)核
  • 更新日期: 2024-10-26
  • 瀏覽次數(shù): 1746
10月25日消息,據(jù)Tomshardware援引@NickBrownHPC 的爆料稱,盡管英偉達(NVIDIA)的 GPU 依賴于其專有的 CUDA 內(nèi)核,這些內(nèi)核具有其指令集架構(gòu)并支持各種數(shù)據(jù)格式。但是在本月的RISC-V峰會上,英偉達透露,這些內(nèi)核由依賴于行業(yè)標準 RISC-V ISA 的定制內(nèi)核控制,盡管有一些擴……
EMMI在半導(dǎo)體器件失效分析的重要性
  • 更新日期: 2024-10-24
  • 瀏覽次數(shù): 1265
失效分析的目的是通過技術(shù)手段找出器件失效的根本原因,并推動改進措施的實施,從而提升生產(chǎn)工藝、改善產(chǎn)品質(zhì)量、提高良率和可靠性。EMMI是在失效分析過程中經(jīng)常使用的設(shè)備之一,它們能夠幫助分析人員檢測電氣故障,并定位失效的具體位置。 1. EMMI的基本原理 EMMI(Electro-Magnetic Induc……
CP測試和WAT測試的區(qū)別
  • 更新日期: 2024-10-23
  • 瀏覽次數(shù): 1776
在集電路的制造和測試過程中,CP測試(Chip Probing)和WAT測試(Wafer Acceptance Test)是兩個非常重要的測試環(huán)節(jié)。盡管它們都在晶圓(Wafer)階段進行,但二者的目的、測試對象、測試內(nèi)容和作用是有顯著不同的。 一、整體概述:CP測試和WAT測試 我們可以把集成電路的制造過程……
一文讀懂探針卡的概念、組成、分類以及應(yīng)用
  • 更新日期: 2024-10-23
  • 瀏覽次數(shù): 3176
探針卡(Probe Card)在集成電路測試中起著至關(guān)重要的作用,尤其在晶圓測試(wafer test)環(huán)節(jié),探針卡作為連接ATE測試機臺和半導(dǎo)體晶圓之間的接口,確保了在芯片封裝前對其電學性能進行初步測量和篩選。 1. 什么是探針卡? 探針卡可以形象地比作“醫(yī)生的聽診器”,幫助工程師“聽到”芯片的“心跳”?!?/div>
為什么研發(fā)EUV光刻機那么難?
  • 更新日期: 2024-10-23
  • 瀏覽次數(shù): 1914
雖然表面上看,光刻機是半導(dǎo)體制造的工具之一,但它的背后涉及復(fù)雜的多學科交叉與全球化合作。 1. 極端紫外光源的挑戰(zhàn):就像尋找“完美的燈泡” EUV光刻機依賴于波長僅為13.5納米的極端紫外線(EUV)光源,而這種光源的產(chǎn)生與控制是最大的技術(shù)挑戰(zhàn)之一。你可以把EUV光源想象成一個非常難以控制的“燈泡”,但這個……
SOC設(shè)計的核心思想、優(yōu)勢以及跟系統(tǒng)級封裝的對比
  • 更新日期: 2024-10-22
  • 瀏覽次數(shù): 1380
SoC( on Chip)作為芯片設(shè)計的主流,已經(jīng)成為現(xiàn)代集成電路技術(shù)發(fā)展的核心。 1、SoC設(shè)計的核心思想 從結(jié)構(gòu)上來看,SoC可以理解為把一個完整系統(tǒng)的所有功能電路都設(shè)計并集成在一個芯片中,形成一個高度集成的單元。傳統(tǒng)的電子系統(tǒng)設(shè)計通常是將不同的功能模塊分別制作成獨立的芯片,然后通過電路板上的連接將這些芯片集成到一個系統(tǒng)中。而SoC技術(shù)則直接將這些模塊在芯片制造時集成在一起,形成一個系統(tǒng)化的單芯片解決方案。 我們可以用“多合一工具”來形象化這個過程。傳統(tǒng)的電子設(shè)計就像是你在使
SOC跟SIP(系統(tǒng)級封裝)的區(qū)別在哪里?
  • 更新日期: 2024-10-22
  • 瀏覽次數(shù): 1883
SoC(系統(tǒng)級芯片)與SiP(系統(tǒng)級封裝)兩種技術(shù)都是現(xiàn)代集成電路發(fā)展的重要里程碑,它們都能實現(xiàn)電子系統(tǒng)的小型化、高效化和集成化。 一、SoC(系統(tǒng)級芯片)和SiP(系統(tǒng)級封裝)的定義及基本思路 SoC(System on Chip)——將整個系統(tǒng)“擠”進一個芯片 SoC 就像一棟高樓,把所有的功能模塊都設(shè)計、集成到同一個物理芯片上。SoC的核心思想是將整個電子系統(tǒng)的核心部件,包括處理器(CPU)、存儲器、通信模塊、模擬電路、傳感器接口等多種不同功能模塊全部集成在一個芯片上。SoC的優(yōu)勢
晶圓工藝優(yōu)化或失效分析相關(guān)術(shù)語
  • 更新日期: 2024-10-15
  • 瀏覽次數(shù): 1722
1. Defect “Defect”指的是在晶圓生產(chǎn)過程中出現(xiàn)的缺陷,可能是由于工藝不穩(wěn)定、設(shè)備問題或材料瑕疵導(dǎo)致的。這些缺陷可能包括顆粒污染、圖形失真、晶體結(jié)構(gòu)破損等,都會影響最終產(chǎn)品的質(zhì)量。 通俗解釋:就是生產(chǎn)過程中出現(xiàn)的“瑕疵”或“不良”,這些問題可能影響芯片的正常功能。 2. Fail ……
干法刻蝕的原理、工藝流程、評價參數(shù)及應(yīng)用
  • 更新日期: 2024-10-15
  • 瀏覽次數(shù): 4108
RIE干法刻蝕技術(shù)憑借其優(yōu)越的各向異性刻蝕能力和良好的選擇比控制,已成為半導(dǎo)體制造中不可或缺的核心工藝。 一、RIE干法刻蝕技術(shù)的基本原理 RIE(Reactive Ion Etching,反應(yīng)離子刻蝕)作為一種主流的干法刻蝕技術(shù),通過等離子體中的活性物質(zhì)對材料表面進行選擇性刻蝕,以達到精確移除材料的目的。 圖:干法刻蝕概要 RIE刻蝕技術(shù)屬于一種等離子體輔助的干法刻蝕工藝??涛g過程中,通過在反應(yīng)腔內(nèi)引入刻蝕氣體并施加射頻電場,在電場作用下刻蝕氣體被電離和激發(fā),形成等離子體
如何理解晶圓制造中的Second Source
  • 更新日期: 2024-10-15
  • 瀏覽次數(shù): 2184
在半導(dǎo)體制造和晶圓工藝設(shè)備維護中,"Second Source"(二次來源)指的是使用非原廠供應(yīng)商生產(chǎn)的零件或耗材來替代原廠零件。這種策略有助于降低成本、減少對單一供應(yīng)商的依賴,同時確保制造的持續(xù)性和靈活性。 1. 什么是Second Source? Second Source是指在生產(chǎn)制造過程中,為了降低……
深入理解晶圓生產(chǎn)中的SPC系統(tǒng)
  • 更新日期: 2024-10-15
  • 瀏覽次數(shù): 2050
SPC (Statistical Process Control) 是晶圓生產(chǎn)工藝中非常重要的工具,用于監(jiān)控、控制和改進制造過程中各個環(huán)節(jié)的穩(wěn)定性。 1. SPC 系統(tǒng)的概述 SPC 是一種通過統(tǒng)計方法監(jiān)控和控制制造過程的方法。其核心是通過實時數(shù)據(jù)的采集和分析來檢測生產(chǎn)過程中是否有異常情況發(fā)生,從而幫助工程師做出及時的調(diào)整和決策。SPC的目標是在生產(chǎn)過程中減少變異,確保產(chǎn)品質(zhì)量穩(wěn)定并符合規(guī)格。 SPC在蝕刻工藝中用于: 監(jiān)控關(guān)鍵設(shè)備參數(shù)(如蝕刻速率、RF功率、腔體壓力、溫度等)

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